SIKORA公司研發(fā)出一套新型系統(tǒng)，采用X射線及光學(xué)技術(shù)相結(jié)合的方式，可對聚合物材料進行100%的檢測，檢測到的雜質(zhì)將被自動剔除。該檢測原理適用于TPE及其它不同材料，在一般流動速率下，可檢測小到50μm的雜質(zhì)或異物，使金屬、有機污染物和異物的檢測和分離得以實現(xiàn)。此外，該系統(tǒng)還可檢測添加劑的分布，尤其是對于復(fù)合材料生產(chǎn)過程，可避免后續(xù)的添加劑結(jié)塊及混合不均勻情況的產(chǎn)生。

通過采用X射線檢測技術(shù)，可對透明及不透明的塑料顆粒進行雜質(zhì)檢測。其基本原理是X射線對原材料與雜質(zhì)（或異物），有不同的衰減率。X射線的衰減率(μ)主要取決于元素的原子量，并與原子序數(shù)的三次方成比例(μ～Z3)。塑料制品主要由碳構(gòu)成(Z=6)，因此衰減率很低。鐵雜質(zhì)的衰減率相對較強(Z=26)，可被清晰地檢測到并剔除。二氧化鈦團塊與周圍材料的散布形成顯著的反差，這是因為在二氧化鈦中鈦(Z=22)與塑料的吸收率有很大的差別。最后，通過特殊的處理和數(shù)學(xué)運算模塊，雜質(zhì)或異物被識別并最終被剔除。該系統(tǒng)通過采用新穎的光學(xué)設(shè)計技術(shù)，為材料檢測提供了特殊的散射光，通過光學(xué)檢測單元可檢測到極小的雜質(zhì)。為在工業(yè)生產(chǎn)速度下對材料流進行精確的檢測，該系統(tǒng)還采用了先進的成像技術(shù)，通過X射線和光學(xué)技術(shù)檢測到的雜質(zhì)，經(jīng)由性能強大的圖像處理軟件辨識，并最終被分離。為避免外部污染物，該系統(tǒng)在掃描機分離系統(tǒng)中采用了密閉式的震動坡道。該設(shè)計確保了環(huán)境空氣中的污染物不會進入到檢測區(qū)域中去，甚至可在系統(tǒng)內(nèi)部導(dǎo)入正壓，從而避免外部污染物進入檢測系統(tǒng)內(nèi)部。